· 晶體元件問(wèn)題：彩超探頭內(nèi)部通常采用壓電晶體，長(zhǎng)期使用會(huì)自然老化，若受到摔、碰等外力擊打，也會(huì)造成晶體損傷。晶體損傷后，會(huì)出現(xiàn)信號(hào)衰減、圖像中有黑影、黑條等情況?？赏ㄟ^(guò)測(cè)量晶片的供電電壓來(lái)判斷，若某一晶片或晶片組的供電電壓較低，則可判斷其內(nèi)部有短路。確定故障晶體后，需更換相應(yīng)的晶片或晶片組，以恢復(fù)探頭性能。

· 聲透鏡問(wèn)題：聲透鏡是探頭上接觸人體的膠狀物質(zhì)，長(zhǎng)期使用會(huì)出現(xiàn)磨損、劃痕、開(kāi)裂等破損，尤其是耦合劑進(jìn)入下層造成的腐蝕，會(huì)造成偽影等盲區(qū)。如果是聲透鏡層與匹配層之間脫膠，可以用液體硅膠注入脫膠處并趕出氣泡，然后用紗布帶將探頭綁緊，放置 24 小時(shí)后松綁，即可恢復(fù)正常。

· 陣元問(wèn)題：探頭的陣元長(zhǎng)期使用后會(huì)有衰減，甚至完全損壞，當(dāng)相鄰的多個(gè)陣元損壞時(shí)，會(huì)形成暗道或倒三角黑區(qū)，使整體圖象回聲強(qiáng)度偏低。對(duì)于損壞的陣元，需要專業(yè)人員使用專業(yè)工具和設(shè)備進(jìn)行更換。

· 線纜問(wèn)題：探頭線纜內(nèi)有眾多細(xì)小導(dǎo)線，長(zhǎng)期彎曲、拉伸等可能導(dǎo)致內(nèi)部導(dǎo)線斷路或接觸不良，影響信號(hào)傳輸，產(chǎn)生暗道和圖像衰減?？纱蜷_(kāi)外層皮套，將總的屏蔽線橫向劃開(kāi)，找出斷裂線，焊接好后用透明膠帶纏上一層，用萬(wàn)用表測(cè)量其是否導(dǎo)通，導(dǎo)通后將此根導(dǎo)線的屏蔽接好并纏好膠帶。若多根斷裂，可依此方法逐一修復(fù)。

· 探頭板故障：探頭板上的高壓開(kāi)關(guān)、電容等元件損壞，或高壓開(kāi)關(guān)控制時(shí)序信號(hào)故障，會(huì)影響通道工作，導(dǎo)致圖像出現(xiàn)暗道。另外，探頭插座與探頭板上的插槽接觸不良，也會(huì)出現(xiàn)此類情況?？蓹z查探頭板上的元件是否有損壞跡象，如有，需更換損壞元件；對(duì)于接觸不良的情況，可重新插拔探頭或清理插槽，確保接觸良好。

· 脈沖板或整序板故障：脈沖板故障會(huì)導(dǎo)致通道問(wèn)題，出現(xiàn)有規(guī)律分布的黑道。整序板上的濾波電路故障，也會(huì)使回聲信號(hào)被拉低或開(kāi)路，形成暗帶。這種情況需專業(yè)人員檢查脈沖板和整序板，維修或更換損壞的電路元件。